• 三豐表面粗糙度儀SV-3200

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    表面粗糙度測量儀SURFTEST SV-3200 系列 頂級定位速度及精度實現了更高效率及高精度表面粗糙度測量。 更短測量時間、消除人為誤差、高度耐用性。 通過多功能化和高效率化的新選件的組合實現了高生產能力。 實現了最高級別定位速度(X軸:最大80mm/s,Z軸:最大30mm/s)的高精度、多功能觸針式表面粗糙度測量機。 產品陣容中增加了功能強大的選件,大幅度的縮短從設置到測量、評價的總體測量時間。

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    表面粗糙度測量儀SURFTEST SV-3200 系列 頂級定位速度及精度實現了更高效率及高精度表面粗糙度測量。 更短測量時間、消除人為誤差、高度耐用性。 通過多功能化和高效率化的新選件的組合實現了高生產能力。 實現了最高級別定位速度(X軸:最大80mm/s,Z軸:最大30mm/s)的高精度、多功能觸針式表面粗糙度測量機。 產品陣容中增加了功能強大的選件,大幅度的縮短從設置到測量、評價的總體測量時間。

    表面粗糙度測量儀SURFTEST SV-3200 系列 頂級定位速度及精度實現了更高效率及高精度表面粗糙度測量。 更短測量時間、消除人為誤差、高度耐用性。 通過多功能化和高效率化的新選件的組合實現了高生產能力。 實現了最高級別定位速度(X軸:最大80mm/s,Z軸:最大30mm/s)的高精度、多功能觸針式表面粗糙度測量機。 產品陣容中增加了功能強大的選件,大幅度的縮短從設置到測量、評價的總體測量時間。

    三豐表面粗糙度儀SV-3200

    1.評估型表面粗糙度測量儀同時配置分析功能。

    2. 裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪廓分析程序。

    3.標配高分辨率的Z1軸檢出器,高顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。

    4.Z1軸的高顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。

    5. X軸驅動裝置裝配高精度玻璃光柵尺,實現X軸方向移動的高精準定位。SV-3200系列為驅動裝置采用陶瓷導軌以提高抗磨性,延長使用壽命。

    6.X軸的分辨力為0.05μm。

    7.標準或低測力檢出器(4mn/0.75mN)的選擇,無需考慮設備本體是否有裝配傾斜裝置。

    8.驅動裝置中的DAT功能可以輕松調整測量工件的水平。

    9.表面粗糙度測量儀SURFTEST SV-3200 系列 定位速度及精度實現了更高效率及高精度表面粗糙度測量。 更短測量時間、消除人為誤差、高度耐用性。 

    10.通過多功能化和高效率化的新選件的組合實現了高生產能力。 實現了高別定位速度(X軸:大80mm/s,Z軸:大30mm/s)的高精度、多功能觸針式表面粗糙度測量機。

    規格:型號:SV-3200S4          SV-3200H4            SV-3200W4                  SV-3200S8                    SV-3200H8               SV-3200W8

     


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